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mini溫控探針臺

產品簡介

原位電學測試平臺，適用于半導體材料、器件變溫下的電學測試，設計小巧，便攜集成顯微、光譜系統

產品型號：
更新時間：2024-11-18
廠商性質：經銷商
訪問量：328
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原位電學測試平臺，適用于半導體材料、器件變溫下的電學測試，設計小巧，便攜集成顯微、光譜系統。



┃ 設備特點


  • 溫度范圍 -190℃～600℃，RT~1000℃

  • 溫度穩定性 ±0.05℃

  • 氣氛保護、真空

  • 樣品區 28x30mm

  • 探針數量 4個

  • 電學接頭 BNC 三同軸BNC 可選

  • 臺面電位 電接地 三同軸 背電極 可選

  • 適配光學儀器 顯微鏡 光譜儀 鐵電 介電 電化學工作站 磁場 電學源表 半導體分析儀 DLTS

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